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定義超導納米線單光子探測器的性能
定義超導納米線單光子探測器的性能 2021,當光在單光子水平上被檢測到時，如何定義測量探測器的性能？當探測器能接近100%的量子效率時，這一點就更為重要，超導納米線單光子探測（SNSPD）就是如此。
在本次網絡研討會上，ID Quantique研究與技術副總裁費利克斯·布西埃（Félix Bussières）介紹了探測器性能表征的主要方面。更具體地說，是用于表征SNSP探測器的技術。他解釋了ID Quantique是如何全面描述探測器性能的，以及為什么這對您的研究和增強您的實驗結果很重要，以及如何根據您的應用需求選擇指標以達到特定的性能要求。
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網絡研討會：NAD(P)H 和 FAD同時進行FLIM代謝成像
Metabolic Imaging by Simultaneous FLIM of
石墨烯材料的拉曼光譜研究
Semrock濾光片如何提升超分辨光學系統質量
?近些年來，一些諸如TIRF（全內角反射熒光顯微鏡，total internal reflection fluorescence microscope）和超高分辨率顯微鏡的技術亟須二向色鏡具有更高的平整度，來減少相差并簡化校準的難度與步驟。即使是有輕微彎曲的二向色鏡都有會影響光學系統中的對焦，導致焦平面的位移以及圖像質量的下降。Semrock全新推出的BrightLine?激光二向色鏡比市面上所有的二向色鏡都更為平坦，在保證各種光學性能的同時，平整度理想可以達到λ/10，可以為最為苛刻的光學系統提供更高的光通量以及更好的信號采集。
顯微鏡中的二向色鏡主要用于對于不同波長光的分束。當使用二向色鏡時，它不僅僅會影響光束的傳播方向，還會影響它的波前。我們制作濾光片的時候會鍍上薄膜來得到需要的過濾波段。涂層產生的應力會導致基材的輕微彎曲或者曲率的不同。二向色鏡的彎曲對于反射的影響比透射大得多。對于透過二向色鏡的光束而言，彎曲僅僅會導致輕微的色散，導致光束有可以忽略的像差。這也就解釋了為什么傳統的熒光顯微鏡為什么不重視平整度這個參數，因為發射信號是透過二向色鏡的。二向色鏡的輕微彎曲雖然在傳統的光學系統上不會造成很明顯的影響，但是會對更先進的顯微系統的成像造成不可忽視的負面影響。這也就促使著濾光片廠家研發出更加適合先進顯微系統的平整濾光片。